缺陷检测 第95页
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[置顶]探馆2023中关村论坛,“思谋造”黑科技产品很吸睛
5月25日至30日,由科技部、国家发展改革委、工业和信息化部、国务院国资委、中国科学院、中国工程院、中国科协、北京市政府共同主办的2023中关村论坛在北京举行中关村论坛吸引了来自全球的行业专家和领军企...
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[置顶]重磅产品接连发布,思谋“加速”工业视觉智能落地
自3月底以来,思谋科技发布SMore ViMo系列多款工业视觉产品,涵盖工业智能云、深度学习训练软件、机器视觉软件;凭借在深度学习、机器视觉等多领域的不断深耕和持续创新,思谋打造了日趋完善的智能制造工...
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OPT锂电池极耳缺陷检测方案收藏
锂电池极耳区域出现的缺陷类型复杂多样,位置随机,而且一些细微瑕疵与极耳背景颜色差异微乎其微,造成难以精确提取缺陷特征,其视觉检测成为行业难点之一OPT依托光学成像和视觉分析两大技术平台,从硬...
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助力半导体缺陷检测 ——“鸿鹄”显微自动对焦成像系统收藏
在半导体晶圆制作中,拉单晶、切片、磨片、抛光、增层、光刻、掺杂、 热处理、针测以及划片……一系列过程中,化学气相沉淀、光学显影、化学机械研磨都是这一过程中可能使晶圆表面产生缺陷的因素而在晶圆...
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以一敌“四”,埃科多点曝光分时线扫描相机——PL8KCL-50KX收藏
随着机器视觉行业应用的不断升级,结构简单,灵敏度高,动态范围广,成本较低,高性价比的线扫描相机逐渐获得较高的认可度,被广泛运用在工业检测各领域中常规线扫描相机检测往往采用1个单线相机+1个光...
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精密检测的新趋势, SWIR相机的各种应用方法收藏
概括短波红外 (SWIR: Short Wave Infrared) 是一种比可见光波长更长的光这些光不能通过 “肉眼”看到,也不能用“普通相机”检测到由于被检测物体的材料特性,一些在可见光...