SIMV薄瑕疵检测系统的原理、应用及功能

表面缺陷检测一直是行业的难题，主要是成像方面的问题，这是一个表面缺陷检测的颈瓶！在表面缺陷检查中，划痕一般都是具有方向性的，在机器视觉大多数成像中，都是采用高低角度打光，这种打光方式，主要是针对表面比较明显或者划痕比较深的缺陷，在这种情况下，可以得到高质量的图像效果，然而在划痕比较微弱的缺陷中，效果就比较难体现出来了，一般的打光方法很难得到符合要求的图像。在这种情况下，只能采用目视或者干脆不检测。

在薄膜的生产过程中，由于生产工艺及现场环境等影响，容易造成薄膜表面出现黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷。这些缺陷不仅影响薄膜产品的外观，更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生产过程中及时检出薄膜表面的瑕疵缺陷，消除生产的根源，实现控制和提高薄膜的表面质量，一直是薄膜企业追求的目标。

现代工业生产对薄膜表面的质量提出越来越高的要求，传统的检测方法如人工目视抽检已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求，基于CCD的赛默斐视SIMV薄瑕疵检测系统与传统的人工肉眼检测相比，具有快速、可靠。准确的优点，目前已被许多薄膜企业所应用。

【赛默斐视SIMV薄瑕疵检测系统检测原理】

生产线正常生产时，高亮的LED线性聚光冷光源采用透射的原理照射在生产线表面（对于不透明的薄膜产品采用反射的检测原理），架设在生产线上的线阵相机进行实时同步扫描，同时系统将相机采集到的薄膜图像通过SIMV图像处理单元进行瑕疵分割处理。

由于瑕疵图像的灰阶与正常产品的灰阶存在明显差异，从而使系统能够发现瑕疵，同时对瑕疵进行有效的判定、分类。

【赛默斐视SIMV薄瑕疵检测系统产品应用】

赛默斐视SIMV薄瑕疵检测系统主要用于检测薄膜在生产过程中表面出现的黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷，借助于由工业CCD相机、高亮LED线性聚光光源组成的薄膜表面缺陷检测的成像系统，及时准确的反应缺陷的的图片、形状、尺寸以及位置等具体信息，在为质量控制、产品评级提供真是准确数据的同时，有效的节约了生产成本、提高了产品质量。

【赛默斐视SIMV薄瑕疵检测系统功能】

1.操作便捷

操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。

2.稳定性高

可连续工作在极端温度和厂房环境中。

3.100%幅面表面检测

发现疵点时可根据设定发出报警，提示及时修复，避免大量缺陷产品的产生。

4.完整的表面质量信息

材料表面疵点图像由计算机进行保存，每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息，产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。

5.高精度检测

方案可100%检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷，满足客户的不断提升的产品品质要求。

6.软件数据库管理功能

可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计，详细的缺陷记录（大小和位置）和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便;离线分析，用于后续分切和质量管理，可有效保证产品质量。

7.定位标识功能

每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。

8.系统联动

当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。

9.一键导出

一键导出EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

注：软件功能可根据用户要求实现完全定制！

责任编辑：tzh