LMI 3D方案助力BGA封装焊接质量检测收藏

网友投稿 238 2024-01-19


BGA(球栅阵列式封装)芯片是采用SMT(表面贴装技术)进行高密度连接的典型集成电路芯片,具备体积小、存储空间大、共面性好以及拥有更好的散热性能和电性能等优点,为各类高端电子产品厂商所青睐随着半导体生产中BGA引脚数的增加,引脚高度,直径,偏移和漏焊检测具有重要意义。

LMI 3D方案助力BGA封装焊接质量检测收藏

LMI公司的FocalSpec® 3D线共焦传感器可以精确测量球高,球径,球位置等尺寸信息,还可测量直径低于50μm的BGA球的相应参数今天我们为大家介绍LMI 3D解决方案助力检测大BGA(500um)和中BGA(250um)。

500um BGA检测

球高检测

位置度检测

球径检测

共面度检测

250um BGA检测

球高检测

位置度检测

球径检测

共面度检测

推荐型号 - LCI 1220

LCI1220线共焦传感器的采样速度高达16 kHz,每秒可生成27,648,000个数据点,是市面上最快的传感器,能够同时捕获3D断层,3D形貌和2D强度数据扫描速率 3000 赫兹(在全景深下)X方向分辨率 6.7 微米

Z方向重复性 0.19 微米视野 (FOV) 11.6 毫米工作距离 20.6 毫米测量范围 (MR) 3.0 毫米最大镜面下角度兼容性 ± 20 度(编辑:中国机器视觉网 姜楠)

版权声明:本文内容由网络用户投稿,版权归原作者所有,本站不拥有其著作权,亦不承担相应法律责任。如果您发现本站中有涉嫌抄袭或描述失实的内容,请联系我们jiasou666@gmail.com 处理,核实后本网站将在24小时内删除侵权内容。

上一篇:上海嘉励 | 偏振光在视觉检测中的应用收藏
下一篇:施耐德电气满足生命科学行业需求的“五种方法”收藏
相关文章

 发表评论

暂时没有评论,来抢沙发吧~