方案背景电子信息的发展迅速的今天，电容、电阻已发展成高品质、小体积、大数量的关键零部件，现有电阻、电容单粒外形是矩形,共有六面外观,现有外观瑕疵检测技术都是分开检测六面外观的缺陷，即六面外观各有不用，分成不同算法来解决。...

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