缺陷检测 第78页

一、引言    同轴光,在机器视觉中是一类应用很广泛的光源同轴光常用于高反光物体表面检测,比如芯片及硅片表面破损检测,LED外观缺陷检测等从作用上讲,同轴光可以消除物体表面上不平整造成的阴影,均匀照射到物体表面,反射回相机,从而采集出一幅均匀性好,对比度高的图片。...

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