缺陷检测 第78页
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[置顶]探馆2023中关村论坛,“思谋造”黑科技产品很吸睛
5月25日至30日,由科技部、国家发展改革委、工业和信息化部、国务院国资委、中国科学院、中国工程院、中国科协、北京市政府共同主办的2023中关村论坛在北京举行中关村论坛吸引了来自全球的行业专家和领军企...
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[置顶]重磅产品接连发布,思谋“加速”工业视觉智能落地
自3月底以来,思谋科技发布SMore ViMo系列多款工业视觉产品,涵盖工业智能云、深度学习训练软件、机器视觉软件;凭借在深度学习、机器视觉等多领域的不断深耕和持续创新,思谋打造了日趋完善的智能制造工...
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基于小视野成像的同轴光的改善应用收藏
一、引言 同轴光,在机器视觉中是一类应用很广泛的光源同轴光常用于高反光物体表面检测,比如芯片及硅片表面破损检测,LED外观缺陷检测等从作用上讲,同轴光可以消除物体表...
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基于斑点分析的缺陷检测方法收藏
斑点(英文Blob),常常是指颜色或者纹理相似的特征组成的连通区域,在机器视觉行业中, 斑点分析就是在前景/背景分离后的二值图像中,通过一定的规则提取这些连通域并...