基于小视野成像的同轴光的改善应用收藏

一、引言    同轴光，在机器视觉中是一类应用很广泛的光源同轴光常用于高反光物体表面检测，比如芯片及硅片表面破损检测，LED外观缺陷检测等从作用上讲，同轴光可以消除物体表面上不平整造成的阴影，均匀照射到物体表面，反射回相机，从而采集出一幅均匀性好，对比度高的图片。

然而，在实际应用中，我们经常发现视野做得比较小（镜头放大倍率2倍或2倍以上）的时候，相机采集的图片模糊、镜头完全对焦不上的现象针对这种现象，CST技术团队找到了一个完善的解决方案，其原理是通过优化同轴光分光镜的光学性能，改善光源内部的透射、反射与折射参数，达到了同轴光在小视野高清晰成像的效果。

二、同轴光成像案例对比1.目标物：标定板。    检测视野：2.30mm*1.44mm。

图1 普通同轴光效果

图2 高清晰同轴光效果2. 目标物：摄像头玻璃片。检测目的：轮廓定位。检测视野：2.30mm*1.44mm。

图3普通同轴光效果图

图4高清晰同轴光效果图3.目标物：FPC软膜。检测目的：Mark定位。检测视野：2.30mm*1.44mm。

图5普通同轴光效果图

图6高清晰同轴光效果图     后记：此同轴光主要应用于小视野情况下的成像随着机器视觉的发展，技术的应用越来越成熟，对光源的了解也越来越深入CST作为一家有着十多年的视觉经验的光源企业，在光源这一块始终走在行业的前列，对业内一些难题也有自己独特的见解。

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