精谱测控光学薄膜污点检测系统主要用于各类薄膜产品的检测工作，可针对生产过程中的薄膜表面出现的断经、断纬、破洞、油污、经纬污、双纬、稀弄、粗节纱、空织、松紧经、圈纬、小散丝、松纬、经起毛、开口不清等瑕疵进行检测，同时系统会把检测出来的问题，提供生产统计质检报告，统计和分析各类疵点，完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。大大的节省了生产成本，为生产提质增效...

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