薄膜瑕疵检测系统主要技术指标的介绍

网友投稿 132 2024-03-07


摘要:随着科技的发展,智能化设备的应用越来越广泛,如在薄膜检测领域,很多企业现如今就采用智能化的薄膜瑕疵检测系统来检测薄膜在生产过程中会出现的瑕疵。精谱测控薄膜瑕疵检测系统能精确的检测,能检测分别出直径 0.01mm-2mm的脏污点、条纹、破损、边缘裂缝、皱折、暗斑、亮斑、边缘破损、黑点疵点、毛发,蚊虫,等常见表面缺陷。

薄膜瑕疵检测系统主要技术指标的介绍

在现代薄膜的生产中,由于受环境、生产工艺、人为等因素的影响,都会在薄膜表面产生诸如晶点、划伤、针孔、黑点、灰尘、蚊虫、毛发等常见缺陷。通常这种带有高度重复性和智能性的工作依靠人工进行检测,往往在花费巨大的人工和管理成本的同时仍然不能保证100%的检验合格率。有些时候,如微小尺寸的缺陷,用人眼根本无法连续稳定地进行。

据了解,精谱测控薄膜瑕疵检测系统凝聚了机器视觉领域的多项先进技术成果,并融入了多项创新的检测理念,既可以和现有生产线无缝对接检测,也可以离线进行检测,在对材料表面的瑕疵以及半透明材料内部瑕疵进行快速检测的同时能够直观的给予生产反馈,可以广泛应用于塑化工业、造纸及纤维工业、电子工业、金属工业等领域。

精谱测控薄膜瑕疵检测系统主要技术指标:

1、测量精度:0.1mm以上的斑点、污点、孔洞等瑕疵

2、适用宽度:按要求定制

3、CCD数量:依被测物宽度及检测精度决定

4、检测常见的瑕疵,对瑕疵缺陷信息进行处理,实时提供瑕疵的位置、大小,以及记录供用户参考核对

5、系统可设置瑕疵报警的参数,用户可根据生产要求设置报警线,实现声光报警并对不合格位置在线做标记。

精谱测控薄膜瑕疵检测系统检测原理:

针对透光率高的薄膜材料,系统采用透射的打光检测方式进行检测,即光源在薄膜的下方,相机在薄膜的上方进行图像拍摄(对于不透明的材料则采用反射的打光方式,即光源与相机在所要检测面的同一侧)。产线运行时,系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测,系统将相机采集到的图像通过精谱测控图像分析软件进行瑕疵处理,由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异,从而使得系统能够发现瑕疵,并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

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