人民日报:推动5G与工业互联网融合发展
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2024-03-03
精谱测控光学薄膜污点检测系统主要用于各类薄膜产品的检测工作,可针对生产过程中的薄膜表面出现的断经、断纬、破洞、油污、经纬污、双纬、稀弄、粗节纱、空织、松紧经、圈纬、小散丝、松纬、经起毛、开口不清等瑕疵进行检测,同时系统会把检测出来的问题,提供生产统计质检报告,统计和分析各类疵点,完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。大大的节省了生产成本,为生产提质增效。那么薄膜瑕疵检测系统的检测方法及特点是什么呢?
精谱测控光学薄膜污点检测系统系统原理:
视觉系统的输出并非图像视频信号,而是经过运算处理之后的检测结果(如缺陷、尺寸等数据)。通常,机器视觉检测就是用机器代替肉眼来做测量和判断。首先采用CCD照相机将被摄取目标转换成图像信号,传送给专用的图像处理系统,根据像素分布和亮度、颜色等信息,转变成数字化信号。
图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征,如:面积、长度、数量、位置等。最后,根据预设的容许度和其他条件输出结果,如:缺陷、尺寸、角度、偏移量、个数、合格/不合格、有/无等。上位机(如PC和PLC)实时获得检测结果后,指挥运动系统或I/O系统执行相应的控制动作(如定位和分类)。
精谱测控光学薄膜污点检测系统技术参数:
检测对象:保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等
典型瑕疵:晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等
检测速度:Max:800m/min
检测幅宽:任意(根据生产线定制)
检测精度:0.1mm~1mm(取决于相机数量、产线幅宽及车速)
瑕疵标识:自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示
历史记录:根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息
精谱测控光学薄膜污点检测系统功能:
精确的瑕疵坐标(X,Y坐标)定位及显示;
自动声光报警,并显示当前及前后10个瑕疵图像;
实时瑕疵标定,记录瑕疵直径、坐标、类型等信息;
实时监测米数,报警信息显示;
产品基本信息模块,记录产品批次、型号、规格、班号、操作员等信息;
根据瑕疵形状、面积大小、灰度差异等特征实现瑕疵自动分类;
自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录,用户可根据批次号直接查询;
自动换卷,自动打印每一卷产品信息的质量报表;
检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能
责任编辑:tzh
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