薄膜表面检测仪的特点及技术参数

精谱测控薄膜表面检测仪主要用于各类薄膜产品的检测工作，可针对生产过程中的薄膜表面出现的断经、断纬、破洞、油污、经纬污、双纬、稀弄、粗节纱、空织、松紧经、圈纬、小散丝、松纬、经起毛、开口不清等瑕疵进行检测，同时系统会把检测出来的问题，提供生产统计质检报告，统计和分析各类疵点，完全取代人工肉眼进行瑕疵检测。大大的节省了生产成本，为生产提质增效。那么薄膜瑕疵检测系统的检测方法及特点是什么呢?

精谱测控薄膜表面检测仪检测方法如下：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

精谱测控薄膜表面检测仪特点：

1、该品种经过多次的测试，可检测常见缺陷，检测率高.

2、能提高降等率，降级索赔率，经济效益高。以电子布为例，产量为168万米/台，总降等率为5%，GC Vision 拦截率为60%.

3、所有疵点进行有效记录并自动保存相关图片.

4、自动形成疵点统计报表.

5、侦测到疵点时，可根据要求进行相应的动作(记录、报警、停机等).

6、显示疵点的具体经纬位置和图片，形成疵点地图，为后期开裁提供基础数据.

7、历史记录追溯：每卷布的各类信息可保存，可追溯。

精谱测控薄膜表面检测仪技术参数:

检测对象：保护膜、涂布膜、PE膜、食品包装膜、太阳能薄膜、光学膜等等

典型瑕疵：晶点、黑点、蚊虫、污点、线条、破洞等

检测速度：Max：800m/min

检测幅宽：任意（根据生产线定制）

检测精度：0.1mm~1mm(取决于相机数量、产线幅宽及车速)

瑕疵标识：自动声光报警、截取当前瑕疵图片及实时X/Y坐标瑕疵分布图显示

历史记录：根据批次号自动记录每一卷薄膜瑕疵的图片、大小、分布位置等信息

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