薄膜表面缺陷检测系统的原理及功能

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统实时在线检测

基于机器视觉检测技术的精谱测控薄膜表面缺陷检测系统凝聚了机器视觉领域的多项先进技术应用，并融入了多项创新的检测理念，既可以和现有生产线无缝对接实时在线检测，也可以离线进行检测，在对材料表面的瑕疵以及半透明材料内部瑕疵进行快速检测的同时能够直观的给予生产数据报告反馈，检测精确、稳定、快速、可大幅度提高生产的柔性及自动化程度以提高生产效率，且易于实现信息集成。

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统检测原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过精谱测控图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统技术参数：

检测对象：保护膜、涂布膜、光学膜、锂电隔膜、食品包装膜

检测幅宽：任意幅宽（根据生产线宽度进行定制）

检测速度：MAX：每分钟600m

检测精度：0.1mm乘以0.1mm

缺陷类型：晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷

测宽精度：产线无纵向偏移时误差小于等于3mm

缺陷标识：自动声光报警，同时在系统界面显示当前缺陷的具体图像及信息

历史记录：记录每一卷薄膜缺陷的总数，分布的位置、大小、面积等信息

精谱测控薄膜表面缺陷检测系统功能：

精确的瑕疵坐标（X，Y坐标）定位及显示；

自动声光报警，并显示当前及前后10个瑕疵图像；

实时瑕疵标定，记录瑕疵直径、坐标、类型等信息；

实时监测米数，报警信息显示；

产品基本信息模块，记录产品批次、型号、规格、班号、操作员等信息；

根据瑕疵形状、面积大小、灰度差异等特征实现瑕疵自动分类；

自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录，用户可根据批次号直接查询；

自动换卷，自动打印每一卷产品信息的质量报表；

检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能

责任编辑：tzh