IC外观检测系统收藏

　　在IC制作、测试及包装过程中，元器件的检测是一个必不可少的环节传统的工件检测主要是通过人工识别，浪费了很多的人工成本，并且避免不了的是人眼的疲劳检测，给产品质量加入了很多不确定因素机器视觉系统通过一系列的算法，可以实现工件的正反检测，零件批号、字符检，以及IC针脚外观缺陷。

IC外观检测系统既可保证高可靠性，又可以保证产品检测的一致性，大大提高了工厂的生产效率，节省了人工系统功能　　1.检测料带型腔内是否存在IC；　　2.检测料带内IC 是否放反；　　3.读取IC表面字符是否与设定字符一致，并且根据不同结果对元件剔除；

　　4.检测IC针脚是否变形或残缺；　　5.系统检测速度<=0.1秒/pcs（根据不同配置方案而定）;

系统原理　　本系统通过图像系统自动对视野范围内的IC芯片进行寻找预先设定的特征，再通过软件算法计算IC的方向、字符特征以及尺寸和表面是否有缺陷等，并进行响应的判断给出结果本系统自动检测IC表面特征，读取IC表面的字符并与设定字符串进行比对、判断，给出结果并进行相应的数据统计。

系统配置

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