PIN针正位度检测方案收藏

背景知识    光的反射定律：反射光线与入射光线、法线在同一平面上，反射光线和入射光线分居在法线的两侧，反射角等于入射角。

   如下图2低角度配光方式所示，当PIN针工件进行低角度照射时，由于需要将PIN针与背景形成对比，光源需要安装在较低的工作距离，若工件PIN针底部为金属材质或有焊锡，根据光的反射定律，由于普通的低角度光源发出来的光线较粗，而且很发散，造成的影响其一是底部的反光会干扰PIN针正位度的检测，测试效果图如下图3所示；其二，由于光源工作距离较低，工件难以实现在产线上进行运动。

   当利用线激光垂直PIN针的方式进行打光检测时，线激光光束由于线宽窄，平行性极好，且光束不容易直接照射到工件背景表面的金属材质或者焊锡因此，可以避免工件背景反光带来的干扰，降低算法的难度，提高系统的稳定性，测试效果图如图5所示。

其实，由于线激光设计比较灵活，针对光源结构可进行非标定制，满足工件在产线上的运动需求

效果图    利用线激光测试得到的效果图如下图所示。

光照示意图    线激光光源光束照射在PIN针的位置，具体的效果需要根据实际工件作光源高度的调整。

现场图

实现功能    该方案利用线激光检测连接器的PIN针间距、有无变形、平整度等优势特征    (1) 非标光源方案    (2) 线激光通过超低角度的打光方式，能够将PIN针端部打亮，使整个平面的PIN针间距、位置清晰呈现，对比度高。

   (3) 线激光的平行性极好，当光照射到PIN针位置，由于光的发散小从而能减少背景信息带来的干扰。    (4) 满足产品在流水线上运动的需求。

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