虹科多位点数字测试系统助力半导体测试位点收藏

半导体数字测试，特别是由STIL、WGL、VCD、EVCD或ATP等仿真文件转换而成的数字测试程序，往往需要扩展到多个DUT测试位点本文讨论了使用GtDio6x产品线和ATEasy®进行多位点测试的系统硬件和软件需求，以提供一个成本有效的解决方案。

数字设备设计注意事项在设计多位点测试程序时，设计者可能无法完全明确成本和性能之间的取舍在评估GX5296或GX5964系列动态数字仪器的性能和能力后，可以合理地推断单个GtDio6x板卡的大量通道应该能够支持多位点数字测试解决方案。

虽然这种解决方案是可能的，但它并不能构建一个性能能满足每个DUT测试位点都使用数字资源或板卡的测试系统基于逐个位点的多数字域的解决方案Marvin Test Solutions公司建议设计基于每个位点的多数字域的多位点测试系统，以便每个DUT测试位点使用自己的数字资源，如图1所示。

该解决方案提供了最快的多位点测试性能，因为每个DUT测试位点可以独立运行

多域解决方案框图使用这种配置方法，每个DUT测试位点都可以使用所有的字资源通过读取实时比较(RTC)错误状态寄存器，可以立即识别每个DUT测试位点的测试状态此外，系统可以设计成每个DUT测试位点使用相同的数字测试文件和测试程序。

通过增加额外的数字领域，DUT测试位点可以很容易地扩展使用ATEasy®也可以轻松创建一个多线程测试程序来执行此测试多域解决方案的相对优点

基于单一数字域的解决方案如2所示，使用单个数字域设计的多位点数字测试系统有几个缺点首先，每个测试位点不能再使用相同的数字文件单一数字域的多位点数字测试解决方案需要一个独立的应用程序从原始数字文件创建额外的测试位点。

这个额外的应用程序需要将原始通道和矢量数据复制到所有新的DUT测试位点

单一域解决方案框图尽管仅读取和评估记录存储器就可以确定所有DUT位点的状态，但由于大多数数字测试的大小都非常大，这种方法并不实用，因为它会消耗太多的测试时间RTC错误地址内存包含高达1K的失败向量地址，可以读取每个地址的记录内存来确定失败的DUT位点。

由于每个测试入口都表示一个失败的位置，所以不会浪费时间从记录内存中读取大量部分来确定测试失败除非失效次数小于1k或以上所述所有DUT均已失效，否则无法确定所有DUT的状态在这种情况下，测试程序必须禁用失败的测试位点，并重新运行数字测试，直到所有DUT测试位点的状态已知。

GtDio6x系列数字仪器提供了一种在检测到故障时中止测试序列的方法;当出现故障时，该特性可以节省测试时间单域解决方案的相对优点

方案比较

除非半导体测试系统的空间(PXI插槽)十分宝贵，否则多位点测试系统在设计时还是应该为每个DUT测试位点提供一个数字域虽然硬件的前期成本会很高，但这会在后期测试过程中带来巨大的回报这保证了尽可能快的测试时间并简化了测试编程，在多位点数字测试系统的设计中，这些功能是至关重要的。

（中国机器视觉网 姜楠）

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