沃德普键盘外观全面检测：盘古分时成像方案收藏

随着键盘数量增多和印刷的多样化，传统的人工检测键盘存在检出率低且效率不高的问题，且增加了劳动强度和生产成本为此沃德普推出自动化键盘外观缺陷全面检测方案，有效提高生产效率和产品质量以台式键盘为例，需要同时检测有六个面：键帽正面、键帽侧壁、键盘正面，键盘侧面、键盘底面、底部凸台。

在设计方案的过程中，仅靠一个光源辅助成像是不足以完成检测以上全部缺陷，然而用多组相机/光源进行检测，那么设备会非常庞大，工位繁多，影响整体检测CT等问题，适时沃德普推出“盘古分时成像方案”，有效解决这一痛点。

“盘古分时成像方案”可以进行多工位合并，且成像速度为300mm/s，保证检测效率，稳定输出不同工位对应光源成像：明场、暗场、明暗场图像

盘古分时成像方案

明场图片

暗场图片

键盘侧边从算法的角度来说，我们提供的图像信息越多，对检出率是有极大帮助的，利用“盘古成像方案”，提供多幅不同光源成像出来的图片，可以有效减轻算法压力，提高检出率，减少漏失次数，提高效率！

“盘古成像方案”能稳定高效地检测缺陷基于键盘外观全面检测方案可用于各种键盘工件的高精度缺陷检测，比如键帽的凸点、划伤、以及暗色划伤等。有效提高生产效率和产品质量，减少人工检测的漏检、误检次数！

键帽：凸点、划伤、暗色划伤自动化机器检测方式优化了传统人工检测的缺点，而“盘古成像方案”具有多工位合并、成像效率高，同时输出不同工位成像的优点，且缩短设备尺寸，减少运控步骤，有效提高检测CT从算法的角度来说，提供的图像信息越多，能有效减轻算法压力，提高检出率！。

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