模式识别 第12页

摘要:目前薄膜瑕疵检测系统大多采用工业计算机、线扫描相机、旋转编码器和线型光源的方案。在生产时,由高亮LED组成的线型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面,通过与薄膜运行同步的旋转编码器触发,使架设在生产线上的线扫描相机同步扫描,将相机采集到的薄膜图像通过工业计算机上的采集卡实时传送给图像处理系统软件进行瑕疵识别处理。由于瑕疵图像的灰阶...

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